Spectrophotomètres de paillasse d/8° par réflexion/transmission Ci7xxx

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Spectrophotomètres à sphère d’intégration capables de prendre en charge des volumes de production élevés et de mesurer avec précision des échantillons de toutes tailles, formes, textures et opacités.

Description

Spectrophotomètres à sphère d’intégration capables de prendre en charge des volumes de production élevés et de mesurer avec précision des échantillons de toutes tailles, formes, textures et opacités.

  • Sphère diffus/8° 6 pouces à 3 faisceaux.
  • Mesure SPIN/SPEX simultanée, valeur de brillance corrélée (60°).
  • Système de visée (en réflexion : caméra HD ; en transmission : visée laser).
  • Capteur interne de température et d’humidité.
  • Contrôle automatique des UV et de l’optique.
  • Configuration automatique.
  • Système NetProfiler intégré permettant aux utilisateurs de surveiller les performances de leur flotte d’instruments.
  • Selon CIE N°15, ASTM D1003, ASTM E1164, DIN 5033 Teil 7, JIS Z 8722 et ISO 7724/1.
  • Nombreux accessoires de mesure adaptés à vos produits.
Modèles Ci7500 Ci7600 Ci7800 Ci7860
Source lumineuse Xénon pulsé, calibré D65
Ouvertures Réflexion 25, 10 mm 25, 10, 6 mm
(17 et 3,5 mm en option)
25, 17, 10, 6 mm
(3,5 mm en option)
25, 17, 10, 6 mm
(3,5 mm en option)
Ouvertures Transmission 22, 10, 6 mm 22, 17, 10, 6 mm 22, 17, 10, 6 mm
Gamme spectrale 360-750 nm 360-750 nm 360-780 nm 360-780 nm
Répétabilité sur blanc
(RMS sur plaque blanche)
0,03 ΔE*ab 0,03 ΔE*ab 0,01 ΔE*ab 0,01 ΔE*ab
Accord inter-instrument CIE L*a*b
(moyenne)
0,15 ΔE*ab 0,15 ΔE*ab 0,08 ΔE*ab 0,06 ΔE*ab
Interface de données USB 2.1 USB 2.0 USB 2.0 USB 2.0
Logiciels de colorimétrie En option : tous les logiciels X-Rite de contrôle-qualité et de formulation

Vidéos de démonstration :

Autres vidéos :

 

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