Description
Spectrophotomètres à sphère d’intégration capables de prendre en charge des volumes de production élevés et de mesurer avec précision des échantillons de toutes tailles, formes, textures et opacités.
- Sphère diffus/8° 6 pouces à 3 faisceaux.
- Mesure SPIN/SPEX simultanée, valeur de brillance corrélée (60°).
- Système de visée (en réflexion : caméra HD ; en transmission : visée laser).
- Capteur interne de température et d’humidité.
- Contrôle automatique des UV et de l’optique.
- Configuration automatique.
- Système NetProfiler intégré permettant aux utilisateurs de surveiller les performances de leur flotte d’instruments.
- Selon CIE N°15, ASTM D1003, ASTM E1164, DIN 5033 Teil 7, JIS Z 8722 et ISO 7724/1.
- Nombreux accessoires de mesure adaptés à vos produits.
Modèles | Ci7500 | Ci7600 | Ci7800 | Ci7860 |
Source lumineuse | Xénon pulsé, calibré D65 | |||
Ouvertures Réflexion | 25, 10 mm | 25, 10, 6 mm (17 et 3,5 mm en option) |
25, 17, 10, 6 mm (3,5 mm en option) |
25, 17, 10, 6 mm (3,5 mm en option) |
Ouvertures Transmission | – | 22, 10, 6 mm | 22, 17, 10, 6 mm | 22, 17, 10, 6 mm |
Gamme spectrale | 360-750 nm | 360-750 nm | 360-780 nm | 360-780 nm |
Répétabilité sur blanc (RMS sur plaque blanche) |
0,03 ΔE*ab | 0,03 ΔE*ab | 0,01 ΔE*ab | 0,01 ΔE*ab |
Accord inter-instrument CIE L*a*b (moyenne) |
0,15 ΔE*ab | 0,15 ΔE*ab | 0,08 ΔE*ab | 0,06 ΔE*ab |
Interface de données | USB 2.1 | USB 2.0 | USB 2.0 | USB 2.0 |
Logiciels de colorimétrie | En option : tous les logiciels X-Rite de contrôle-qualité et de formulation |
Vidéos de démonstration :
Autres vidéos :
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